低温引伸计

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产品详情

技术特点：
Ø 标距范围：2mm-100mm。可根据实际使用情况，选择相应标距的引伸计

Ø 变形测量范围：0~±10mm

Ø 示值误差（相对）±1%，（绝对）±1um

Ø 线性度：满量程的0.1%-0.15%

Ø 工作温度范围：4K(-269 oC)~373K(100oC)，可在此温区内任意温度工作

Ø 适用于各种直径圆棒、各种厚度的板材轴向变形测量，也适用于构件及其他物体两点之间线变形测量

参数：

型号	技术参数
室温环境	（室温—100℃）
CRT-102	室温拉伸计引伸，标距10mm，测量范围±2mm
CRT-152	室温拉伸计引伸，标距15mm，测量范围±2mm
CRT-203	室温拉伸计引伸，标距20mm，测量范围±3mm
CRT-253	室温拉伸计引伸，标距25mm，测量范围±3mm
CRT-304	室温拉伸计引伸，标距30mm，测量范围±4mm
CRT-354	室温拉伸计引伸，标距35mm，测量范围±4mm
CRT-404	室温拉伸计引伸，标距40mm，测量范围±4mm
CRT-454	室温拉伸计引伸，标距45mm，测量范围±4mm
CRT-504	室温拉伸计引伸，标距50mm，测量范围±4mm
CRT-105	室温断裂韧性引伸计，测量范围5mm
CRT-UL 系列	超轻重量：0.6-10克；标距范围：10-50mm；测量范围：±2mm-±4mm；适用于线状材料或薄带状材料的测试。如：低温超导线，高温超导带材
液氮环境	（77K—373K；-196℃—100℃）
CLN-102	77K拉伸计引伸，标距10mm，测量范围±2mm
CLN-152	77K拉伸计引伸，标距15mm，测量范围±2mm
CLN-203	77K拉伸计引伸，标距20mm，测量范围±3mm
CLN-253	77K拉伸计引伸，标距25mm，测量范围±3mm
CLN-304	77K拉伸计引伸，标距30mm，测量范围±4mm
CLN-354	77K拉伸计引伸，标距35mm，测量范围±4mm
CLN-404	77K拉伸计引伸，标距40mm，测量范围±4mm
CLN-454	77K拉伸计引伸，标距45mm，测量范围±4mm
CLN-504	77K拉伸计引伸，标距50mm，测量范围±4mm
CLN-105	77K断裂韧性引伸计，测量范围5mm
CLN-UL 系列	超轻重量：0.6-10克；标距范围：10-50mm；测量范围：±2mm-±4mm；适用于线状材料或薄带状材料的测试。如：低温超导线，高温超导带材
液氦环境	（4K—373K；-269℃—100℃）
CLH-102	4.2K-300K拉伸计引伸，标距10mm，测量范围±2mm
CLH-152	4.2K-300K拉伸计引伸，标距15mm，测量范围±2mm
CLH-203	4.2K-300K拉伸计引伸，标距20mm，测量范围±3mm
CLH-253	4.2K-300K拉伸计引伸，标距25mm，测量范围±3mm
CLH-304	4.2K-300K拉伸计引伸，标距30mm，测量范围±4mm
CLH-354	4.2K-300K拉伸计引伸，标距35mm，测量范围±4mm
CLH-404	4.2K-300K拉伸计引伸，标距40mm，测量范围±4mm
CLH-454	4.2K-300K拉伸计引伸，标距45mm，测量范围±4mm
CLH-504	4.2K-300K拉伸计引伸，标距50mm，测量范围±4mm
CLH-105	4.2K-300K断裂韧性引伸计，测量范围5mm
CLH-UL 系列	超轻重量：0.6-10克；标距范围：10-50mm；测量范围：±2mm-±4mm；适用于线状材料或薄带状材料的测试。如：低温超导线，高温超导带材

使用范围：
低温力学性能测试中应变测量，包括拉伸测试、压缩测试，断裂韧度：Jic和R曲线测试。

低温环境中两点间的距离变化测试。

中国科学院理化技术研究所低温材料及应用超导研究中心低温力学性能测试平台目前均采用此系列引伸计，此测试平台获得国际热核聚变实验反应堆（ITER）材料低温力学性能检测资质认证。

北京微纳光科真空设备有限公司

主营：真空无磁位移台、真空光学平台，真空低温仪器，真空设备配件

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