热电势测试仪

在线订购
产品详情
技术特点
  • 适用于研究开发各种材料和薄膜材料电阻系数
  • 高级应用程序控温技术,包括温差和测量步进等高级要求。
  • 自由升/降温、可精确控制温度程序,进行升温、恒温与降温过程中的数据测量    
  • 自动压力安全保护设计,确保测试过程中不会发生爆炸
  • 试样支架采用独特的接触式平衡机构,保证测量的高重现性
  • 可选原片状样品测量系统
  • 可选高级数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
 
 
技术参数
 
型  号 CRA-31 CRA-32
测量范围 0.1 mohm-1 Kohm
       0.1 mohm-10 Mohm (高电阻模块)
0.1 mohm-10 Mohm
1 uohm-100 Mohm (高电阻模块)
精度 5% 2%
测量方法 四端法
分辨率 10 nOhm
温度范围 -100°C up to 500°C ;  RT up to 800°C / 1150°C
控温速率 0.01 – 100 K/min
控温精度 +/-0.5K
电流 0 to 160 mA
气氛 减压He、氧化、还原、真空
样品尺寸 直径或正方形:2 to 4 mm;长度:6 to 22 mm
圆片样品 Ø 10-12.7-25.4 mm
 
 
测试性结构图
 
圆柱形或棱形样品垂直放置在两电极之间,同时整个测量系统设置于一个加热炉内。加热炉加热样品到预定的温度,在此温度下, 直流电四端法测量电阻,样品两端通入恒定电流,测量样品的电压变化, 可以计算出电阻系数。

相关标签:
上一篇:冷却力学装置 下一篇:高低温炉
新闻资讯